LET-2000D 是满足 IEC60747-8/9、JESD24 标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参 数评估、驱动设计、PCB 设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，LET2000D 有着较高的系统 带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。
- 双脉冲测试法可以测试 IGBT 模块和驱动的性能，获取 IGBT 稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估 IGBT 模块和驱动的 性能，并进行电路参数的优化。
- 具体包括测试 IGBT 的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸 收电路影响、 短路保护功能等， 可以通过测试进行优化栅极电阻 RGON 和 RGOFF 参数、吸收电路参数、开关频率设置等， 并可以进行 IGBT 模块的并联和串联实验。

硬件优势:
- 采用全球先发布的 12 bit 示波器：正确反映波形的 细节，并准确计算出参数
- 采用全球首先发布的光隔离、高 CMRR 探头系统，解 决 SIC\GAN 的测试难点
- 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对 SIC/GAN 的测量要求
- 可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头
- 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
- 器件驱动设计支持 SIC/GAN 器件
- 系统带宽：>400MHz
-系统可以定制
软件特点：
-测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复 参数
-支持器件类型多：单管/模块，MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
-测试方式：单脉冲、多脉冲
- 离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据 离线分析
- 测试 UI 符合工程师的使用习惯
- 测量项目及器件支持扩展