LET-6000高温反偏测试系统

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LET-6000高温反偏测试系统

1、满足的试验标准 lESD51-1 AEC-Q101 GJB128A MIL-STD-750 JESD22A-108 JESD22A-101
2、满足的试验器件类型二极管 MOSFET IGBT CMOS IPM 等功率器件各类 IGBT 模块
3、试验系统的电气参数及功能漏电流范围：10nA~1A(HTRB、H3TRB) 漏电流范围：1nA~2mA(HTGB)试验电压：10V~6000V(HTRB、HTOL) 试验电压：±30V-200V(HTGB、H3TRB)
4、试验系统的容量及扩展试验通道：8/16/24、可扩展 MAX 工位数：640/ 1280 /1960 老化板尺寸：280mm×500mm （器件不同会变化）器件的封装类型：轴向/径向二极管、TO-247-3/4、TO-3P、TO-220 等，可以根据需要选择老化板可以支持[敏感词]的封装类型，如 D-PAK（252）、D2PAK（263）E-mode、WPAK、POWER-PAK 等。模块：IGBT 半桥、全桥等

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